低温電子顕微鏡検査法とは?

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低温電子顕微鏡法

低温電子顕微鏡法（ていおんでんしけんびきょうほう、Cryo-electron microscopy、cryo-EM、クライオ電子顕微鏡法）は透過型電子顕微鏡法の一種で、試料を低温（多くの場合液体窒素の温度）において解析する手法である。構造生物学や細胞生物学の分野において用いられる。

電子顕微鏡

電子顕微鏡（でんしけんびきょう）とは、通常の顕微鏡（光学顕微鏡）では、観察したい対象に光（可視光線）をあてて像を得るのに対し、光の代わりに電子（電子線）を用いる顕微鏡のこと。電子顕微鏡は、物理学、化学、工学、生物学、医学（診断を含む）などの各分野で広く利用されている。光学顕微鏡

走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子

顕微鏡

顕微鏡は、まだ性能で外国製に及ばなかった。これに触発された山下長は、世界に通用する顕微鏡の開発を目指し、高千穂製作所（後のオリンパス）を創立した。光学顕微鏡 (OM) 実体顕微鏡蛍光顕微鏡レーザー走査顕微鏡共焦点レーザー顕微鏡電子顕微鏡透過型電子顕微鏡 (TEM) 走査型電子顕微鏡 (SEM)

レーザー走査顕微鏡

共焦点顕微鏡光学系となっている。共焦点光学系では、面内分解能が向上するだけでなく、焦点深度が浅くなり奥行き分解能も向上する。そのため、試料または対物レンズを3次元的に動かすことにより試料の深さ方向の情報を得て、コンピュータにより3次元像を構成することができる。共焦点レーザー顕微鏡光学顕微鏡

走査型顕微鏡

走査型顕微鏡（そうさがたけんびきょう）とは機械的、電子的な走査の機構を備えた顕微鏡の総称。光学顕微鏡の場合、回折限界以下に集束して走査することで分解能を高める事が可能。走査方法は試料のステージを機械的に移動して走査する方法や電子線を曲げることで走査する方法がある。走査型電子顕微鏡走査型トンネル顕微鏡