Ngôn ngữ
Không có dữ liệu
Thông báo
Không có thông báo mới
顕微鏡は、まだ性能で外国製に及ばなかった。これに触発された山下長は、世界に通用する顕微鏡の開発を目指し、高千穂製作所(後のオリンパス)を創立した。 光学顕微鏡 (OM) 実体顕微鏡 蛍光顕微鏡 レーザー走査顕微鏡 共焦点レーザー顕微鏡 電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 (TEM) 走査型電子顕微鏡 (SEM)
る。探針の変位は光ファイバーを利用した干渉計で測定される。 試料は樹脂や無機化合物のような絶縁体が対象で、高圧パルス電源で探針から電圧を印加して試料表面が帯電することにより生じた静電気力を計測時に探針を接地した状態の非接触原子間力顕微鏡で走査して計測する。帯電していない領域ではファンデルワールス力の
電子顕微鏡(でんしけんびきょう)とは、通常の顕微鏡(光学顕微鏡)では、観察したい対象に光(可視光線)をあてて像を得るのに対し、光の代わりに電子(電子線)を用いる顕微鏡のこと。電子顕微鏡は、物理学、化学、工学、生物学、医学(診断を含む)などの各分野で広く利用されている。 光学顕微鏡
磁気力顕微鏡が、他の走査型プローブ顕微鏡と異なる点は、MFMでは磁石同士に作用する異極間(N極とS極)の引力作用と同極間(N極とN極,またはS極とS極)の斥力作用(磁気双極子相互作用)を利用していて、カンチレバーにパーマロイやコバルト系の磁性材料を蒸着した物を用いる
凝着力が一番大きく、異なる疎水性のCH3基と親水性のCOOH基の組み合わせで凝着力が一番小さく、それらの凝着力の違いが相互作用力の2次元分布の画像で視覚化される。 表面が官能基で覆われた試料の評価 表面に有機物を有する試料の評価 ^ a b 化学力顕微鏡, https://warp
顕微鏡 (STM)の原理を応用して試料表面の形状と電解質等のイオン流の2次元分布情報を可視化する。 ヘリウム原子を試料に照射して細部の構造を可視化する。微細加工も可能。 ^ a b “電界イオン顕微鏡・電界放射顕微鏡”. 2017年3月8日閲覧。 ^ 中村勝吾、「電界イオン顕微鏡による表面構造の研究」『日本結晶学会誌』
ホログラフィック顕微鏡 (DHM) は、デジタルホログラフィの像再生計算によって得られる複素振幅分布のうち、位相成分を抽出して再生像として用いることで、ナノメートルオーダの高さ変化や屈折率変化の検出が可能になった。 被写界深度が従来の光学顕微鏡よりも深いので3次元像を記録でき、歪の無い自由焦点画像を再生可能。
対物レンズからレーザーのような位相の揃った光源ではなくアークランプのような位相の揃わない光源でケーラー照明される。対物レンズは高開口(NA = 1.2)の液浸レンズが使用され、対向する対物レンズから入射した画像を重ねることにより干渉像を得る。2つの対物レンズ