故障モードと影響解析とは?

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故障モード

故障モード（こしょうモード、英: failure mode）は、JIS C5750-4-3:2011では「アイテムにおける故障の様子」と定義されている。JIS Z8115:2000のF2では「故障状態の形式による分類。例えば、断線、短絡、折損、摩耗、特性の劣化など」と定義されている。故障モード

半導体故障解析

半導体故障解析（はんどうたいこしょうかいせき）とは、集積回路（半導体デバイス）において、製造過程での不良品や、故障品の何処に異常があるのかを解析する事、又、その技術である。極めて多くの素子の集合体である集積回路に於いて、何処が、どの様に、壊れているのかを解析する技術である。LSIテスタ（半導体試

解析

かいせき

(1)物事を分析して論理的に明らかにすること。分析。

影響

えいきょう

〔影が形に従い，響きが声に応ずる意〕

影響

ようごう

〔呉音〕

故障

こしょう

(1)機械や身体などに不調が生じて，円滑に働かなくなること。

アルゴリズム解析

アルゴリズム解析（アルゴリズムかいせき）とは、アルゴリズムの実行に必要とされるリソース（時間や記憶領域）量を見積もることである。多くのアルゴリズムは任意長の入力を受け付けるよう設計されている。アルゴリズムの「効率」や「複雑さ」は一般に、入力長からそのアルゴリズムを実行するのに必要なステップ数（時間複雑性）や記憶領域サイズ（空間複雑性）への関数として表される。